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ホーム＞製品紹介＞断面観察試料破断器ABK-5
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けがき加工を施した断面観察用サンプルを、手軽に破断させる事が出来ます
試料幅約5mmまで対応
各種半導体ウェハーの破断が可能
加工手順
①弊社製品[高性能ウェハ・マスク破断装置 AMCシリーズで、断面サンプルを作製する試料の表面にけがき加工を施します②ABK-5にけがき加工を施した試料をセットします③破断用ノブをゆっくり回して試料を破断します
主な仕様
サイズ
幅80×奥行140×高70(mm)
重量
約370(g)
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