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- Charge neutralization using secondary shower for shave-off depth profiling by focused ion beam secondary ion mass spectrometry:[Applied Surface Science 255 (2008) 1351-1353]で弊社電子銃を使用した研究が掲載されました
- 走査透過電顕のための新しい収差補正法 :[金属 第78巻第11号・平成20年11月1日発行 P55-P58]が掲載されました
- A single-atom electron source in practical gun of an extreme high vacuum :[e-Journal of Surface Science and Nanotechology 6,68(2008)]が掲載されました
- Development of a parallel detection and processing system using a mulutidetector array for wave field restoration in scanning transmission electron microscopy:[REVIEW OF SCIENTFIC INSTRUMENTS 78,083705(2007)]が掲載されました
- Highly efficient electron gun with a single-atom electorn source :[Applied Physics Letters 90,143120(2007)]が掲載されました
- Applied Surface Science 255 (2008) 1351-1353 :[Charge neutralization using secondary shower for shave-off depth profiling by focused ion beam secondary ion mass spectrometry]で弊社電子銃を使用した記事が掲載されました
- 走査透過電顕のための新しい収差補正法 :[金属 第78巻第11号・平成20年11月1日発行 P55-P58]が掲載されました
- A Single-Atom Electron Source in Practical Gun of an Eztreme High Vacuum :[e-Journal of Surface Science and Nanotechology 6,68(2008)]が掲載されました
- Development of a parallel detection and processing system using a mulutidetector array for wave field restoration in scanning transmission electron microscopy:[REVIEW OF SCIENTFIC INSTRUMENTS 78,083705(2007)]が掲載されました
- Highly efficient electron gun with a single-atom electorn source :[Applied Physics Letter 90,143120(2007)]が掲載されました
- 低速電子回折顕微鏡の開発:[第68回応用物理学会学術講演会 (2007年9月)]が掲載されました
- (国際学会)Highly efficient practical electron gun with a singleatom electron source :[The Fourth 21COE Symposium September,2006,Waseda University,Japan]が掲載されました
- 実用単原子源:[学振マイクロビームアナリシス第141委員会 第124回研究会(2006年5月)]が掲載されました
- 単原子電子源を適用した電子銃の作成とその評価:[第53回応用物理学関係連合講演会(2006年3月)]が掲載されました
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