機器分析・FIB加工、環境分析・EMI測定試験
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分析・試験のご相談から問題解決のお手伝いまで【セイコーアイ・テクノリサーチ株式会社】 分析・試験のご相談から問題解決のお手伝いまで【セイコーアイ・テクノリサーチ株式会社】
ミクロの世界から環境分析まで幅広い知識と技術あり

セイコーアイ・テクノリサーチは、高度なテクノロジーでさまざまな化学分析のニーズにお応えします。


ナノ技術
開発支援や評価試験を行います。
ICの配線変更
配線の切断
配線の接続
評価用テストパッドの作成
【FIB配線変更加工】
修正前   修正後
修正前   修正後
マイクロ・ナノ加工
マイクロ部品の加工
SPM評価用テストパターンの作成
TEM観察用試料作成
【FIB加工&観察】  
FIB加工&観察  
   
試作品の評価
成分確認(EPMA、AES)
構造確認(FIB、TEM)
形状確認(SEM、SPM)
【SEM観察(カンチレバー)】  
SEM観察(カンチレバー)  
   
微小領域部の観察
断面方向観察(FIB)
高倍率観察(TEM)
微小領域の形状観察(SPM)
【AFM観察(マイカの原子像)】  
AFM観察(マイカの原子像)  
測定領域:20nm□(約500万倍)  
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環境保全
部材の安全性や作業環境の測定を行います。
作業環境測定
特定化学物質/有機溶剤の濃度測定
作業域で有害成分濃度評価
【蛍光X線による有害物質測定】  
プラスチック中の有害物質測定  
   
製造環境
製品中の有害物質測定
工業排水/飲料水の公定分析
敷地土壌中の有害化学成分調査
ダクト排出ガス分析
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工程改善の支援
品質保証やトラブル対策を行います。
使用部材の確認
無機系成分調査(EPMA)
有機系材料調査(FT−IR)
物性調査(TA、XRD)
材料の純度測定(ICP)
【異物のFT−IR分析】  
異物のFT−IR分析  
   
工程内不良の原因調査
構成成分調査(AES、SIMS)
異物の調査(EPMA、FT−IR)
不良部の断面観察(FIB)
【二次イオン質量分析(SIMS)】  
二次イオン質量分析(SIMS)  
   
製品の故障解析
故障箇所の観察(SEM、FIB)
汚染成分の調査(AES、SIMS)
パッケージ内の形態観察(軟X線)
【軟X線観察(水晶振動子)】  
軟X線観察(水晶振動子)  
   
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機器分析
高度な最新鋭の機器分析装置を駆使して、表面分析、素材解析、像観察、有機分析などを行います。
 【対象となる分析】
半導体多層膜の組成分析
金属酸化物薄膜の組成分析
金属、合金の組成分析
電子材料の異物分析
めっき、IP等厚膜の組成分析

装飾品の腐食・変色解析

セラミック材料の組成分析
樹脂コーティング組成分析
ポリマーの熱的物性解析
有機混合溶剤の組成分析
シリコンウエハ(ステップ)AFM像
シリコンウエハ(ステップ)AFM像
FIB加工
ガリウムイオンを用いた集束イオンビーム(FIB)加工
 【対象となる加工】
IC内配線変更・パッド作製
断面加工、FIB/TEM観察
SMI8300によるスルーホール部の断面観察
スルーホール部のFIB断面観察
環境分析
公害関係法令に基づく、工場排水分析、大気分析、土壌分析、産業廃棄物分析を行います。労働衛生関係法令に基づく作業環境測定、上水分析、ビル環境測定等を高精度に行います。
 【対象となる分析】  
土壌、産業廃棄物分析 大気分析
作業環境測定 各種作業上およびビル室内の環境測定
飲料水水質検査  
EMI測定試験
千葉EMI測定サイト
千葉EMI測定サイト
電子機器(情報技術装置等)から放射される不要電磁波(EMI)を測定し、各国の規制値を満足しているか評価を行います。また、ご要望により正式測定レポート発行やEMI対策指導も行います。
 【対象となる試験規格】
VCCI(日本の自主規制規格)
FCC(アメリカ)
EN(ヨーロッパ)
CISPR(国際規格)
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お問い合わせ
即日対応などお急ぎの場合はご相談ください。
立会い分析も行っておりますので、ご相談下さい。
ご希望に応じ、故障解析等の技術コンサルティングをお受けいたします。
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受託試験関連用語集 (関連用語の紹介をします。詳細は該当ページへどうぞ)
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シックハウス分析:広義での環境問題の1つであるシックハウス症候群を引き起こす原因となっ・・・
環境ホルモン測定:PCB、農薬類、アルキルフェノール、ビスフェノール、フタル酸、エステ・・・
作業環境試験:労働者が働いている場所の状態・環境(=作業環境)の環境改善、労働者の・・・
ダイオキシン検査:土壌や廃棄物 等に含まれる猛毒なダイオキシン(テトラクロロジベンゾパ・・・
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PCB測定:人体に対する毒性が極めて強いPCB(polychlorobiphen・・・

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